FT-331 quattro sondeTester di resistenza a blocchi

Uno Descrizione:

L'uso del principio di misura van der Waals può risolvere l'influenza e l'errore di fattori esterni come dimensioni geometriche, effetti al contorno, disallineamento della sonda e deriva meccanica sui risultati di misura dei campioni. Versione cinese o inglese

II Norma di riferimento:

La norma per la misurazione della resistività dei wafer di silicio (ASTM F84) e la progettazione e la fabbricazione standard nazionali; GB/T 1551-2009 "Metodo per la determinazione della resistività dei cristalli singoli di silicio" e GB/T 1552-1995 "Metodo a quattro sonde DC per la determinazione della resistività dei cristalli singoli di silicio e germanio"

III Campo di applicazione:

Adatto a imprese di produzione, università e dipartimenti di ricerca, è uno strumento per ispezionare e analizzare la qualità dei materiali semiconduttori; Display LCD, misura automatica e compensazione del coefficiente, con la funzione di compensazione della temperatura, conversione automatica della gamma; Adottando il controllo del chip AD, uscita corrente costante, opzionale: software del PC, salvataggio e stampa dei dati, generando rapporti

Utilizzato per: pellicole di copertura; Film conduttivo del polimero, film di riscaldamento elettrico ad alta e bassa temperatura; Isolamento termico, film conduttivo della finestra, panno conduttivo (schermante), film decorativo, carta decorativa; Etichette metalliche, pellicole di alluminio; Fusione, sinterizzazione, sputtering, rivestimento, strati di rivestimento, film resistivi e capacitivi touch screen; Rivestimenti per elettrodi, altri materiali semiconduttori, materiali a film sottile e prodotti correlati per prove di resistenza quadrata

4 Modello e parametri del tester di resistenza a blocchi